电子跃迁到较高能级以后处于激发态，但激发态电子是不稳定的，大约经过10^-8秒以后，激发态电子将返回基态或其它较低能级，并将电子跃迁时所吸收的能量以光的形式释放出去，这个过程称原子发射光谱。可见原子吸收光谱过程吸收辐射能量，而原子发射光谱过程则释放辐射能量。 [2] 发射光谱分析的过程 语音1．把试样在能量的作用下蒸发、原子化(转变成气态原子)，并使气态原子的外层电子激发---能态。
材质必须均匀。你的待测元素不均匀的话，多的地方和少的地方差别会较大。因为xrf光谱仪入射光线一般较窄，直径1-5微米，也就是说照射到样品的区域会很小，所以不均匀样品检测会不准确，当然主要也是看不均匀程度。
你的交错规律排列指的什么？如果是一层高分子，一层无机物，在一层高分子一层无机物，并且每层的厚度一定（比如层高分子都是10微米厚）。这样的可以在一定程度上看成是均匀的，但是用x荧光光谱仪测量还是有问题，因为x荧光透过不同物质有厚（某元素的x荧光透射不出来的厚度，原因是自吸收）的问题。
这类标物目前有欧盟研制的用于塑料样品x射线荧光分析的， 代号jsac0651-55， 圆片状， 规格为4*40 mm;用于塑料样品x射线荧光分析的铅、镉、铬、， 代号jsac0631-32， 圆片状， 规格为4*40mm;还有我国研制的rohs检测x射线荧光分析用abs中的铅、镉、铬、， 代号gbw (e) 081634-081638， 圆片状， 规格为4*40 mm;ro hs检测x荧光分析用pvc中的铅、镉、铬、， 代号gbw (e) 081121-081125， 圆片状， 规格为4*40 mm。
compass500能量色散rohs分析仪在快速无损、 现场rohs筛选分析方法中， 具有不可取代的---。 无论是从硬件方面还是软件方面，rohs2.0分析仪， ---是近几年， 随着微电子技术、 计算机技术、 核技术和材料科学技术的发展， x射线光谱现场rohs分析仪在以下几方面将得到进一步的发展。
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