英飞思开发的edx8000b镀层测厚仪是专门针对于镀层材料成分分析和镀层厚度测定。其主要优点是准确，快速，无损，edx8000tplusxrf镀层测厚仪，操作简单，测量速度快。可同时分析多达五层材料厚度，并能对镀层的材料成分进行快速鉴定。
xrf镀层测厚仪工作原理
镀层测厚仪edx8000b是将x射线照射在样品上，通过从样品上反射出来的第二次x射线的强度来测量镀层等金属薄膜的厚度，因为没有接触到样品且照射在样品上的x射线能量很低，所以不会对样品造成损坏。同时，测量的也可以在10秒-30秒内完成。
>;镀铬，例如带有装饰性镀铬饰面的塑料制品
>;钢上锌等防腐涂层
>;电路板和柔性pcb上的涂层
>;插头和电触点的接触面
>;电镀液分析
>;镀层，如金基上的铑材料分析
>;电镀液分析
>;分析电子和半导体行业的功能涂层
>;分析硬质材料涂层，例如 crn、tin 或 ticn
>;可拓展增加rohs有害元素分析功能
xrf金属镀层测厚仪产品特点
>;测试快速，无需样品制备
>;可通过内置高清ccd---机来观察及选择定位微小面积镀层厚度的测量，避免直接接触，污染或破坏被测物
>;备有多种以上的镀层厚度测量和成分分析时所需的标准样品
>;可覆盖元素周期表mg镁到u---
>;sdd检测器，具有高计数范围和---的能量分辨率
>;可切换准直器和滤光片
xrf金属镀层测厚仪应用场景
>;edx8000b镀层测厚仪可以用于pcb镀层厚度测量，pcb镀层分析，金属电镀镀层分析；
>;测量的对象包括镀层、敷层、贴层、涂层、化学生成膜等
>;可测量离子镀、电镀、蒸镀、等各种金属镀层的厚度
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