




>;镀铬,微区膜厚仪edx-8000t plus,例如带有装饰性镀铬饰面的塑料制品
>;钢上锌等防腐涂层
>;电路板和柔性pcb上的涂层
>;插头和电触点的接触面
>;电镀液分析
>;镀层,如金基上的铑材料分析
>;电镀液分析
>;分析电子和半导体行业的功能涂层
>;分析硬质材料涂层,例如 crn、tin 或 ticn
>;可拓展增加rohs有害元素分析功能

苏州英飞思科学仪器有限公司,英文名字:efficiency scientific instrument co.,ltd.
公司logo和英文缩写为esi。
英飞思esi坐落于美丽而现代的苏州工业园。
xrf镀层测厚仪工作原理镀层测厚仪是将x射线照射在样品上,通过从样品上反射出来的第二次x射线的强度来测量镀层等金属薄膜的厚度,因为没有接触到样品且照射在样品上的x射线能量很低,所以不会对样品造成损坏。同时,测量的也可以在10秒-30秒内完成。
测厚仪
材料的镀层厚度是一个重要的生产工艺参数,其选用的材质和镀层厚度直接影响了零件或产品的耐腐蚀性、装饰效果、导电性、产品的---性和使用寿命,因此,镀层厚度的控制在产品、过程控制、成本控制中都发挥着重要作用。英飞思开发的edx8000b镀层测厚仪是专门针对于镀层材料成分分析和镀层厚度测定。其主要优点是准确,快速,无损,操作简单,测量速度快。可同时分析多达五层材料厚度,并能对镀层的材料成分进行快速鉴定。

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