作为电子电气产品制造企业非常熟悉的一项指令，其---历程可谓是---三折。由于修订过程中各方分歧较大，因此这项本来意欲在2009年就---的修订案一拖再拖。---是就是否扩大产品范围和受限物质的范围，欧盟内部包括、欧洲议会、理事会、业界、ngo等都进行了激烈的争论。扩大了产品范围：将所有的电子电气产品都涵盖在了指令规管的范围内（包括线缆和备用零部件），但是给予了新添入的第8类和第9类监视和控制仪器（包括工业监控仪器）一定的过渡期，此外，还针对这两类产品给出了20项的豁免（列于附件iv中）
由于原子的能级很多，原子在被激发后，其外层电子可有不同的跃迁，但这些跃迁应遵循一定的规则(即“光谱选律”)，因此对特定元素的原子可产生一系列不同波长的特征光谱线，这些谱线按一定的顺序排列，并保持一定的强度比例。光谱分析就是从识别这些元素的特征光谱来鉴别元素的存在(定性分析)，而这些光谱线的强度又与试样中该元素的含量有关，因此又可利用这些谱线的强度来测定元素的含量(定量分析)。
材质必须均匀。你的待测元素不均匀的话，多的地方和少的地方差别会较大。因为xrf光谱仪入射光线一般较窄，直径1-5微米，也就是说照射到样品的区域会很小，所以不均匀样品检测会不准确，当然主要也是看不均匀程度。
你的交错规律排列指的什么？如果是一层高分子，cs995型红外碳硫分析仪，一层无机物，在一层高分子一层无机物，并且每层的厚度一定（比如层高分子都是10微米厚）。这样的可以在一定程度上看成是均匀的，但是用x荧光光谱仪测量还是有问题，因为x荧光透过不同物质有厚（某元素的x荧光透射不出来的厚度，原因是自吸收）的问题。
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