




英飞思xrf镀层测厚仪优势
>;微光斑x 射线---光学器件
通过将高亮度一次 x 射线照射到0.02mm的区域,edx8000tplusxrf镀层测厚仪,实现---测量。
>;硅漂移探测器 (sdd) 作为检测系统
高计数率硅漂移检测器可实现---测量。
>;高分辨率样品观测系统
的点位测量功能有助于提高测量精度。
>;全系列标配薄膜fp无标样分析法软件,可同时对多层镀层及全金镀层厚度和成分进行测量
配合用户友好的软件界面,可以轻松地进行日常测量。

膜厚仪edx8000b可分析的常见镀层材料
可测试重复镀层、非金属、轻金属、多层多元素以及有机物层的厚度及成分含量。
单涂镀层应用:如cr/fe, ni/fe, ag/cu,zn/fe等
多涂镀层应用:如au/ni/cu, ag/pb/zn, ni/cu/fe等
合金镀层应用:如znni/fe, znal/ni/cu等
合金成分应用:如nip/fe, 同时分析镍磷含量和镀层厚度

测厚仪
材料的镀层厚度是一个重要的生产工艺参数,其选用的材质和镀层厚度直接影响了零件或产品的耐腐蚀性、装饰效果、导电性、产品的---性和使用寿命,因此,镀层厚度的控制在产品、过程控制、成本控制中都发挥着重要作用。英飞思开发的edx8000b镀层测厚仪是专门针对于镀层材料成分分析和镀层厚度测定。其主要优点是准确,快速,无损,操作简单,测量速度快。可同时分析多达五层材料厚度,并能对镀层的材料成分进行快速鉴定。

edx8000tplusxrf镀层测厚仪-英飞思科学仪器由苏州英飞思科学仪器有限公司提供。苏州英飞思科学仪器有限公司是一家从事“光谱仪,合金分析仪,矿石分析仪”的公司。自成立以来,我们坚持以“诚信为本,---经营”的方针,勇于参与市场的良性竞争,使“英飞思”品牌拥有------。我们坚持“服务,用户”的原则,使英飞思科学在分析仪器中赢得了客户的---,树立了---的企业形象。 ---说明:本信息的图片和资料仅供参考,欢迎联系我们索取准确的资料,谢谢!
联系我们时请一定说明是在100招商网上看到的此信息,谢谢!
本文链接:https://tztz336579a1.zhaoshang100.com/zhaoshang/283392556.html
关键词: