⒌测量前要注意周围其他的电器设备会不会产生磁场，膜厚仪edx8000t型xrf镀层测厚仪，如果会将会干扰磁性测厚法。⒍测量时要注意不要在内转角处和靠近试件边缘处测量，因为一般的测厚仪试件表面形状的忽然变化很敏感。⒎在测量时要保持压力的恒定，否则会影响测量的读数。⒏在进行测试的时候要注意仪器测头和被测试件的要直接接触，因此超声波测厚仪在进行对侧头清除附着物质。
>;镀铬，例如带有装饰性镀铬饰面的塑料制品
>;钢上锌等防腐涂层
>;电路板和柔性pcb上的涂层
>;插头和电触点的接触面
>;电镀液分析
>;镀层，如金基上的铑材料分析
>;电镀液分析
>;分析电子和半导体行业的功能涂层
>;分析硬质材料涂层，例如 crn、tin 或 ticn
>;可拓展增加rohs有害元素分析功能
测厚仪
材料的镀层厚度是一个重要的生产工艺参数，其选用的材质和镀层厚度直接影响了零件或产品的耐腐蚀性、装饰效果、导电性、产品的---性和使用寿命，因此，镀层厚度的控制在产品、过程控制、成本控制中都发挥着重要作用。英飞思开发的edx8000b镀层测厚仪是专门针对于镀层材料成分分析和镀层厚度测定。其主要优点是准确，快速，无损，操作简单，测量速度快。可同时分析多达五层材料厚度，并能对镀层的材料成分进行快速鉴定。
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