膜厚仪edx8000t型xrf镀层测厚仪-英飞思科学仪器公司

xrf金属镀层测厚仪产品特点

>;测试快速，无需样品制备

>;可通过内置高清ccd---机来观察及选择定位微小面积镀层厚度的测量，避免直接接触，污染或破坏被测物

>;备有多种以上的镀层厚度测量和成分分析时所需的标准样品

>;可覆盖元素周期表mg镁到u---

>;sdd检测器，具有高计数范围和---的能量分辨率

>;可切换准直器和滤光片

xrf金属镀层测厚仪应用场景

>;edx8000b镀层测厚仪可以用于pcb镀层厚度测量，pcb镀层分析，膜厚仪edx8000t型xrf镀层测厚仪，金属电镀镀层分析；

>;测量的对象包括镀层、敷层、贴层、涂层、化学生成膜等

>;可测量离子镀、电镀、蒸镀、等各种金属镀层的厚度

膜厚仪edx-8000b型xrf镀层测厚仪

simply the best

>;微光斑x 射线---光学器件

通过将高亮度一次 x 射线照射到0.02mm的区域，实现---测量。

>;硅漂移探测器 (sdd) 作为检测系统

高计数率硅漂移检测器可实现---测量。

>;高分辨率样品观测系统

的点位测量功能有助于提高测量精度。

⒌测量前要注意周围其他的电器设备会不会产生磁场，如果会将会干扰磁性测厚法。⒍测量时要注意不要在内转角处和靠近试件边缘处测量，因为一般的测厚仪试件表面形状的忽然变化很敏感。⒎在测量时要保持压力的恒定，否则会影响测量的读数。⒏在进行测试的时候要注意仪器测头和被测试件的要直接接触，因此超声波测厚仪在进行对侧头清除附着物质。




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