




英飞思xrf镀层测厚仪优势
>;微光斑x 射线---光学器件
通过将高亮度一次 x 射线照射到0.02mm的区域,实现---测量。
>;硅漂移探测器 (sdd) 作为检测系统
高计数率硅漂移检测器可实现---测量。
>;高分辨率样品观测系统
的点位测量功能有助于提高测量精度。
>;全系列标配薄膜fp无标样分析法软件,可同时对多层镀层及全金镀层厚度和成分进行测量
配合用户友好的软件界面,可以轻松地进行日常测量。

苏州英飞思科学仪器有限公司,英文名字:efficiency scientific instrument co.,ltd.
公司logo和英文缩写为esi。
英飞思esi坐落于美丽而现代的苏州工业园。
xrf镀层测厚仪工作原理镀层测厚仪是将x射线照射在样品上,通过从样品上反射出来的第二次x射线的强度来测量镀层等金属薄膜的厚度,因为没有接触到样品且照射在样品上的x射线能量很低,所以不会对样品造成损坏。同时,测量的也可以在10秒-30秒内完成。
全系列标配薄膜fp无标样分析法软件,可同时对多层镀层及全金镀层厚度和成分进行测量配合用户友好的软件界面,膜厚仪edx8000t plus,可以轻松地进行日常测量。材料的镀层厚度是一个重要的生产工艺参数,其选用的材质和镀层厚度直接影响了零件或产品的耐腐蚀性、装饰效果、导电性、产品的---性和使用寿命,因此,镀层厚度的控制在产品、过程控制、成本控制中都发挥着重要作用。
泉州膜厚仪edx8000t plus-苏州英飞思科学由苏州英飞思科学仪器有限公司提供。苏州英飞思科学仪器有限公司位于苏州工业园区唯新路69号一能科技园2号楼407室。在市场经济的浪潮中拼博和发展,目前英飞思科学在分析仪器中享有---的声誉。英飞思科学取得---商盟,标志着我们的服务和管理水平达到了一个新的高度。英飞思科学全体员工愿与各界有识之士共同发展,共创美好未来。
联系我们时请一定说明是在100招商网上看到的此信息,谢谢!
本文链接:https://tztz336579a1.zhaoshang100.com/zhaoshang/282459394.html
关键词: