由于原子的能级很多，原子在被激发后，其外层电子可有不同的跃迁，但这些跃迁应遵循一定的规则(即“光谱选律”)，因此对特定元素的原子可产生一系列不同波长的特征光谱线，这些谱线按一定的顺序排列，并保持一定的强度比例。光谱分析就是从识别这些元素的特征光谱来鉴别元素的存在(定性分析)，而这些光谱线的强度又与试样中该元素的含量有关，因此又可利用这些谱线的强度来测定元素的含量(定量分析)。
实验方法
1.3.1
标准溶液配制
四种---二---酯标准储备液(2000μg/ml)：准确称取bbp、dibp、dbp、dehp 各50mg，用
溶解并定容至25ml。
四种---二---酯标准工作液：用配制浓度分别为1μg/ml、10μg/ml、20μg/ml、50μg/ml、
100μg/ml 的标准工作液。
1.3.2
样品前处理
1）将样品剪碎至粒径约1mm 及以下的小颗粒；
2）称取剪碎的样品约1.0000g（至0.1mg），放至50ml 具塞管中；
3）加入30ml ，超声提取70min；
4）冷却至室温后，过滤至100ml 容量瓶中；
5）用多次洗涤具塞试管及残渣，洗涤液合并到100ml 容量瓶中，用定容至100ml；
6）用滤膜过滤后待测。3
材质必须均匀。你的待测元素不均匀的话，多的地方和少的地方差别会较大。因为xrf光谱仪入射光线一般较窄，直径1-5微米，也就是说照射到样品的区域会很小，所以不均匀样品检测会不准确，当然主要也是看不均匀程度。
你的交错规律排列指的什么？如果是一层高分子，esi-900型x荧光光谱分析仪好不好，一层无机物，在一层高分子一层无机物，并且每层的厚度一定（比如层高分子都是10微米厚）。这样的可以在一定程度上看成是均匀的，但是用x荧光光谱仪测量还是有问题，因为x荧光透过不同物质有厚（某元素的x荧光透射不出来的厚度，原因是自吸收）的问题。
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