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英飞思esi坐落于美丽而现代的苏州工业园。
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膜厚仪edx-8000b型xrf镀层测厚仪
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>;微光斑x 射线---光学器件
通过将高亮度一次 x 射线照射到0.02mm的区域,实现---测量。
>;硅漂移探测器 (sdd) 作为检测系统
高计数率硅漂移检测器可实现---测量。
>;高分辨率样品观测系统
的点位测量功能有助于提高测量精度。

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