膜厚仪edx-8000b型xrf镀层测厚仪
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>;微光斑x 射线---光学器件
通过将高亮度一次 x 射线照射到0.02mm的区域，实现---测量。
>;硅漂移探测器 (sdd) 作为检测系统
高计数率硅漂移检测器可实现---测量。
>;高分辨率样品观测系统
的点位测量功能有助于提高测量精度。
>;镀铬，微区膜厚仪加工，例如带有装饰性镀铬饰面的塑料制品
>;钢上锌等防腐涂层
>;电路板和柔性pcb上的涂层
>;插头和电触点的接触面
>;电镀液分析
>;镀层，如金基上的铑材料分析
>;电镀液分析
>;分析电子和半导体行业的功能涂层
>;分析硬质材料涂层，例如 crn、tin 或 ticn
>;可拓展增加rohs有害元素分析功能
xrf金属镀层测厚仪产品特点
>;测试快速，无需样品制备
>;可通过内置高清ccd---机来观察及选择定位微小面积镀层厚度的测量，微区膜厚仪公司，避免直接接触，海南微区膜厚仪，污染或破坏被测物
>;备有多种以上的镀层厚度测量和成分分析时所需的标准样品
>;可覆盖元素周期表mg镁到u---
>;sdd检测器，具有高计数范围和---的能量分辨率
>;可切换准直器和滤光片
xrf金属镀层测厚仪应用场景
>;edx8000b镀层测厚仪可以用于pcb镀层厚度测量，pcb镀层分析，金属电镀镀层分析；
>;测量的对象包括镀层、敷层、贴层、涂层、化学生成膜等
>;可测量离子镀、电镀、蒸镀、等各种金属镀层的厚度
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