英飞思xrf镀层测厚仪优势
>;微光斑x 射线---光学器件
通过将高亮度一次 x 射线照射到0.02mm的区域，实现---测量。
>;硅漂移探测器 (sdd) 作为检测系统
高计数率硅漂移检测器可实现---测量。
>;高分辨率样品观测系统
的点位测量功能有助于提高测量精度。
>;全系列标配薄膜fp无标样分析法软件，可同时对多层镀层及全金镀层厚度和成分进行测量
配合用户友好的软件界面，可以轻松地进行日常测量。
膜厚仪edx8000b可分析的常见镀层材料
可测试重复镀层、非金属、轻金属、多层多元素以及有机物层的厚度及成分含量。
单涂镀层应用：如cr/fe， ni/fe， ag/cu，zn/fe等
多涂镀层应用：如au/ni/cu， ag/pb/zn， ni/cu/fe等
合金镀层应用：如znni/fe，微区膜厚仪edx-8000t plus， znal/ni/cu等
合金成分应用：如nip/fe， 同时分析镍磷含量和镀层厚度
应用编辑 语音1、激光测厚仪是利用激光的反射原理，根据光切法测量和观察机械制造中零件加工表面的微观几何形状来测量产品的厚度，是一种非接触式的动态测量仪器。它可直接输出数字信号与工业计算机相连接，并迅速处理数据并输出偏差值到各种工业设备。2、x射线测厚仪利用x射线穿透被测材料时，x射线的强度的变化与材料的厚度相关的特性从而测定材料的厚度，是一种非接触式的动态计量仪器。
微区膜厚仪edx-8000t plus-英飞思科学仪器由苏州英飞思科学仪器有限公司提供。行路致远，---。苏州英飞思科学仪器有限公司致力成为与您共赢、共生、共同前行的---，更矢志成为分析仪器具有竞争力的企业，与您一起飞跃，共同成功!
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