英飞思科学-营口膜厚仪edx8000t plus

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    2023-9-30

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⒌测量前要注意周围其他的电器设备会不会产生磁场,如果会将会干扰磁性测厚法。⒍测量时要注意不要在内转角处和靠近试件边缘处测量,因为一般的测厚仪试件表面形状的忽然变化很敏感。⒎在测量时要保持压力的恒定,否则会影响测量的读数。⒏在进行测试的时候要注意仪器测头和被测试件的要直接接触,因此超声波测厚仪在进行对侧头清除附着物质。




苏州英飞思科学仪器有限公司测厚仪可以用来在线测 量轧制后的板带材厚度,并以电讯号的形式输出。该电讯号输给显示器和自动厚度控制系统,以实现对板带厚度的自动厚度控制(agc)。 目前常见的测厚仪有γ射线、β射 线、x射线及同位素射线等四种,其安放位置均在板带轧机的出口或入 口侧。设计、安装测厚仪时要在可能的条件下尽量靠近工作辊,目的是降低板厚的滞后调整时间。




英飞思开发的edx8000b镀层测厚仪是专门针对于镀层材料成分分析和镀层厚度测定。其主要优点是准确,快速,无损,操作简单,测量速度快。可同时分析多达五层材料厚度,并能对镀层的材料成分进行快速鉴定。

xrf镀层测厚仪工作原理

镀层测厚仪edx8000b是将x射线照射在样品上,膜厚仪edx8000t plus,通过从样品上反射出来的第二次x射线的强度来测量镀层等金属薄膜的厚度,因为没有接触到样品且照射在样品上的x射线能量很低,所以不会对样品造成损坏。同时,测量的也可以在10秒-30秒内完成。






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