




由于原子的能级很多,原子在被激发后,其外层电子可有不同的跃迁,但这些跃迁应遵循一定的规则(即“光谱选律”),因此对特定元素的原子可产生一系列不同波长的特征光谱线,这些谱线按一定的顺序排列,并保持一定的强度比例。光谱分析就是从识别这些元素的特征光谱来鉴别元素的存在(定性分析),而这些光谱线的强度又与试样中该元素的含量有关,因此又可利用这些谱线的强度来测定元素的含量(定量分析)。

rohs检测方法可以参考iec62321:2008电子电气产品中六种限用物质浓度的测定程序
首先用xrf光谱仪进行无损筛选,快速,非破坏性,成本低。但干扰因素多,误差较大。
xrf光谱rohs分析仪以其可进行快速无损筛检的性能,受到多个行业的---,其中包括
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射线管发射具有高能量的粒子束照射样品, 当其能量大于样品原子中某一轨道电子的结合能时, 便可将该轨道的电子逐出, 形成空穴, 即时外层电子跃向空穴, 电子轨道层的能量差将以特征x射线荧光逸出原子,cs995型红外碳硫分析仪, 其能量差与原子序数相对应, 以此能谱的峰位和净强度进行定性和定量分析。依据rohs检测中元素的特点以及大量实际检测经验, 能量色散x射线荧光光谱仪因其激发源采用较大功率的rh靶来产生特征x射线激发样品原子中k层l层谱线, 可降低背景

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