




膜厚仪edx8000b可分析的常见镀层材料
可测试重复镀层、非金属、轻金属、多层多元素以及有机物层的厚度及成分含量。
单涂镀层应用:如cr/fe, ni/fe, ag/cu,大兴安岭地区测厚仪,zn/fe等
多涂镀层应用:如au/ni/cu, ag/pb/zn,测厚仪怎么样, ni/cu/fe等
合金镀层应用:如znni/fe, znal/ni/cu等
合金成分应用:如nip/fe, 同时分析镍磷含量和镀层厚度

它以plc和工业计算机为,测厚仪报价,采集计算数据并输出目标偏差值给轧机厚度控制系统,达到要求的轧制厚度。主要应用行业:有色金属的板带箔加工、冶金行业的板带加工。3、纸张测厚仪:适用于4mm以下的各种薄膜、纸张、纸板以及其他片状材料厚度的测量。4、薄膜测厚仪:用于测定薄膜、薄片等材料的厚度,测厚仪好不好,测量范围宽、测量精度高,具有数据输出、任意位置置零、公英制转换、自动断电等特点。5、涂层测厚仪:用于测量铁及非铁金属基体上涂层的厚度.

膜厚仪edx-8000b型xrf镀层测厚仪
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>;微光斑x 射线---光学器件
通过将高亮度一次 x 射线照射到0.02mm的区域,实现---测量。
>;硅漂移探测器 (sdd) 作为检测系统
高计数率硅漂移检测器可实现---测量。
>;高分辨率样品观测系统
的点位测量功能有助于提高测量精度。

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