发布单位：苏州英飞思科学仪器有限公司 发布时间：2024-3-23
苏州英飞思科学仪器有限公司，英文名字：efficiency scientific instrument co.,ltd.
公司logo和英文缩写为esi。
英飞思esi坐落于美丽而现代的苏州工业园。
xrf镀层测厚仪工作原理镀层测厚仪是将x射线照射在样品上，通过从样品上反射出来的第二次x射线的强度来测量镀层等金属薄膜的厚度，因为没有接触到样品且照射在样品上的x射线能量很低，所以不会对样品造成损坏。同时，测量的也可以在10秒-30秒内完成。
英飞思xrf镀层测厚仪优势
>;微光斑x 射线---光学器件
通过将高亮度一次 x 射线照射到0.02mm的区域，实现---测量。
>;硅漂移探测器 (sdd) 作为检测系统
高计数率硅漂移检测器可实现---测量。
>;高分辨率样品观测系统
的点位测量功能有助于提高测量精度。
>;全系列标配薄膜fp无标样分析法软件，可同时对多层镀层及全金镀层厚度和成分进行测量
配合用户友好的软件界面，可以轻松地进行日常测量。
英飞思开发的edx8000b镀层测厚仪是专门针对于镀层材料成分分析和镀层厚度测定。其主要优点是准确，快速，无损，操作简单，测量速度快。可同时分析多达五层材料厚度，并能对镀层的材料成分进行快速鉴定。
xrf镀层测厚仪工作原理
镀层测厚仪edx8000b是将x射线照射在样品上，通过从样品上反射出来的第二次x射线的强度来测量镀层等金属薄膜的厚度，因为没有接触到样品且照射在样品上的x射线能量很低，所以不会对样品造成损坏。同时，测量的也可以在10秒-30秒内完成。
