发布单位：苏州英飞思科学仪器有限公司 发布时间：2022-8-24
英飞思xrf镀层测厚仪优势
>;微光斑x 射线---光学器件
通过将高亮度一次 x 射线照射到0.02mm的区域，实现---测量。
>;硅漂移探测器 (sdd) 作为检测系统
高计数率硅漂移检测器可实现---测量。
>;高分辨率样品观测系统
的点位测量功能有助于提高测量精度。
>;全系列标配薄膜fp无标样分析法软件，可同时对多层镀层及全金镀层厚度和成分进行测量
配合用户友好的软件界面，可以轻松地进行日常测量。
苏州英飞思科学仪器有限公司测厚仪可以用来在线测 量轧制后的板带材厚度，并以电讯号的形式输出。该电讯号输给显示器和自动厚度控制系统，以实现对板带厚度的自动厚度控制（agc）。 目前常见的测厚仪有γ射线、β射 线、x射线及同位素射线等四种，其安放位置均在板带轧机的出口或入 口侧。设计、安装测厚仪时要在可能的条件下尽量靠近工作辊，目的是降低板厚的滞后调整时间。
⒌测量前要注意周围其他的电器设备会不会产生磁场，如果会将会干扰磁性测厚法。⒍测量时要注意不要在内转角处和靠近试件边缘处测量，因为一般的测厚仪试件表面形状的忽然变化很敏感。⒎在测量时要保持压力的恒定，否则会影响测量的读数。⒏在进行测试的时候要注意仪器测头和被测试件的要直接接触，因此超声波测厚仪在进行对侧头清除附着物质。
