发布单位：苏州英飞思科学仪器有限公司 发布时间：2022-4-28
xrf：x射线荧光光谱仪（x-ray fluorescence spectrometer，简称：xrf光谱仪），是一种快速的、非破坏式的物质测量方法。x射线荧光（x-ray fluorescence，xrf）是用高能量x射线或伽玛射线撞击材料时激发出的次级x射线。这种现象被广泛用于元素分析和化学分析，---是在金属，玻璃，陶瓷和建材的调查和研究，地球化学，---学，考古学和艺术品。
在可见和近紫外实现这些测量没有任何困难。测量通过个单色仪的光通量，紧接着测量通过两个单色仪的光通量，以这种方式来确定第二个单色仪的透射率。测量需要知道单色仪的透射率：对于相对测量，以各种波长处的相对单位可以测量透射率。真空紫外线的这些测量有相当大的实验困难，因此通常使用辅助单色仪。在各种入射角的情况下分别测量衍射光栅的效率。在许多实验步骤中已成功地避免了校准上的困难。
不同的元素所释放出来的二次x射线具有特定的能量，这一个过程就是我们所说的x射线荧光（xrf）。探测系统测量这些出来的二次x射线的能量及数量。然后仪器软件将探测系统所收集到的信息转换成样品中各种元素的种类及含量——每种元素的发射强度与样品中的元素含量成正比，通过预先设置好的校正曲线计算出来，可显示其含量。特点分析范围：0.3%～99.99%测量时间：自适应测量精度：±0.1%测试环境：常温常态.
